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Spectromètre inductivement couplé d'émission optique de plasma pour l'analyse du contenu d'éléments

Détails de produit

Lieu d'origine: La Chine

Nom de marque: MACY

Certification: CE ISO ROHS FCC FAD

Numéro de modèle: ICP-6800

Conditions de paiement et d'expédition

Quantité de commande min: 1PCS

Prix: $38,000.00 - $50,000.00/ Set|1 Set/Sets(Min. Order)

Détails d'emballage: 1600X700X800MM, emballage de carton, plus un en bois

Délai de livraison: Paiement reçu, d'ici 10 jours de la livraison

Conditions de paiement: T/T, Western Union

Capacité d'approvisionnement: 1000pcs/month

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Point culminant:

spectromètre d'émission optique d'analyse du contenu d'éléments

,

spectromètre inductivement couplé d'émission optique de plasma

,

spectromètre inductivement couplé d'émission de plasma

Nom:
Spectrophotomètre de laboratoire
Mots-clés:
ICP
Optique:
Type de Czerny-Turner
Stabilité de fréquence:
<0.1%
Stabilité de puissance de sortie:
<0.3%
Fréquence:
27.12MHz±0.05%
Modèle:
ICP-6800
Alimentation d'énergie :
220±10V 50-60MHz
Type de circuit:
alimentation d'énergie à semi-conducteur de rf, avec la fonction de l'automatch
Nom:
Spectrophotomètre de laboratoire
Mots-clés:
ICP
Optique:
Type de Czerny-Turner
Stabilité de fréquence:
<0.1%
Stabilité de puissance de sortie:
<0.3%
Fréquence:
27.12MHz±0.05%
Modèle:
ICP-6800
Alimentation d'énergie :
220±10V 50-60MHz
Type de circuit:
alimentation d'énergie à semi-conducteur de rf, avec la fonction de l'automatch
Spectromètre inductivement couplé d'émission optique de plasma pour l'analyse du contenu d'éléments

ICP-6800 a inductivement couplé le spectromètre d'émission optique de plasma (la norme)


Champ d'application

A inductivement couplé le spectromètre d'émission de plasma (ICP6800) développé par des instruments de Macylab avec beaucoup d'années d'accumulation de technologie. Elle est employée pour mesurer des traces et des traces de diverses substances (solubles dans l'acide chlorhydrique, l'acide nitrique, l'acide fluorhydrique, etc.), et le contenu des éléments en métal ou des éléments non métalliques. Elle est stable et fiable et avec le niveau élevé de l'automation et de l'opération facile.

Actuellement, des instruments sont largement appliqués dans divers champs tels que la terre rare, géologie, métallurgie, industrie chimique, protection de l'environnement, médecine clinique, produits pétroliers, semi-conducteur, nourriture, échantillons biologiques, la science criminelle, recherche agronomique et ainsi de suite.

Spectromètre inductivement couplé d'émission optique de plasma pour l'analyse du contenu d'éléments 0

Environnement d'application

GAMME SATISFAITE

Température ambiante 15℃-25℃ d'expédition/stockage

Hygrométrie ≤70% d'expédition/stockage

KPa de la pression atmosphérique 86-106

Alimentation d'énergie 220±10V 50-60MHz

Humidité fonctionnante ≤70%

La température fonctionnante 15℃-30℃

 

 

Paramètre technique de RFPower :

Type de circuit : alimentation d'énergie à semi-conducteur de rf, avec la fonction de l'automatch

Fréquence : 27.12MHz±0.05%

Stabilité de fréquence : <0.1%

Puissance de sortie : 800W-1200W

Stabilité de puissance de sortie : <0.3%

Rayonnement échappé de rf : 30cm à partir de l'instrument, champ électrique : E﹤2V/m

 

Échantillonnage du paramètre technique de système :

Diamètre intérieur fonctionnant de bobine de sortie : 25mm

Tube de couple : Trois concentriques, diamètre externe 20mm

Nébuliseur coaxial : Diamètre extérieur 6mm

Chambre de pulvérisation de double baril : Diamètre extérieur 34mm

 

Contrôles de flux de gaz

1. Débitmètre d'argon de plasma : (100-1000) l/h (1.6-16L/min)

2. Débitmètre auxiliaire d'argon : (10-100) l/h (0.16-1.66L/min)

3. L/h du débitmètre d'argon de transporteur (10-100) (0.16-1.66L/min)

4. Valve de maintien de pression (0-0.4MPa)

5. L'eau de refroidissement : La température : 20-25℃, taux de Flow>5L/min, Pressure>0.1MPa hydraulique

 

Spectromètre

Optique : Type de Czerny-Turner

Longueur focale : 1000 millimètres

Grille : Ion Beam Etching Holographic Grating, 3600L/mm ou 2400L/mm

Dispersion linéaire réciproque : 0.26nm/mm

Résolution : ≤ 0.007nm (3600 ligne grille) ; ≤0.015nm (grille 2400line)

 

Gamme de longueurs d'onde : 3600 ligne grille : (190nm~500) nanomètre ; 2400 ligne grille : (190nm~800) nanomètre

Pas minimum de moteur de progression : ≤0.0006 nanomètre

Fente de sortie : 12μm ; Fente d'entrée : 10μm

 

Représentation photoélectrique de convertisseur

Spécifications de tube photomultiplicateur : R293/R928

HT négative sur PMT : 0-1000V ; Stabilité : <0.05%

 

Représentation globale

Gamme de longueurs d'onde du balayage : 195nm~500nm (ligne grille de 3600L/mm) ; 195nm~800nm (ligne grille de 2400L/mm)

Répétabilité : RSD (écart type relatif) ≤1.5%

Stabilité : RSD (écart type relatif) ≤2%

Limites de détection (µg/L) :

Élément Plan horizontal (nanomètre) Limite   Élément Plan horizontal (nanomètre) Limite
La 408,672 <3>   Cr 267,716 <5>
Ce 413,765 <5>   Al 396,152 <5>
RP 414,311 <5>   Zr 343,823 <5>
ND 401,225 <5>   AG 328,068 <3>
SM 360,946 <10>   Sr 407,771 <1>
Eu 381,967 <1>   Au 242,795 <5>
Gd 342,247 <10>   Pinte 265,945 <5>
TB 350,917 <3>   Palladium 340,458 <5>
Dy 353,170 <3>   IR 224,268 <10>
Ho 345,600 <3>   Rhésus 343,489 <10>
Heu 337,271 <3>   RU 240,272 <5>
Le TM 313,126 <3>   Ba 455,403 <1>
Yb 369,419 <1>   As 228,812 ≤15
Lu 261,541 <3>   Sb 206,833 ≤15
Y 371,030 <1>   Bi 223,061 ≤10
Sc 335,373 <1>   Hectogramme 253,652 ≤15
Merci 226,230 <5>   Pb 220,353 ≤15
NOTA: 313,340 <5>   GA 294,364 ≤10
Manganèse 257,610 <3>   Se 203,985 ≤10
Magnésium 279,553 <1>   Sn 242,949 ≤20
B 249,773 <10>   Te 214,281 ≤10
Zn 213,856 <3>   Merci 226,230 ≤5.0
Co 228,616 <3>   Th 283,730 ≤10
SI 251,611 <10>   Tl 276,787 ≤30
Ni 232,003 <5>   Re 227,525 ≤5
Cd 226,502 <3>   GE 209,426 ≤15
Fe 239,562 <3>   OS 225,585 ≤1
Ca 393,366 <1>   W 207,911 ≤10
MOIS 281,615 <5>   Cu 324,754 <3>
V 310,230 <5>   Li 670,784 ≤3
Soyez 313,041 <1>   Na 588,995 ≤20
Ti 334,941 <3>   K 766,490 ≤60

 

 


Empaquetage et expédition

Spectromètre inductivement couplé d'émission optique de plasma pour l'analyse du contenu d'éléments 1


Certificats

Spectromètre inductivement couplé d'émission optique de plasma pour l'analyse du contenu d'éléments 2

 


Aperçu d'usine

Spectromètre inductivement couplé d'émission optique de plasma pour l'analyse du contenu d'éléments 3Spectromètre inductivement couplé d'émission optique de plasma pour l'analyse du contenu d'éléments 4